新方案可預測太空集成微電路故障
2017年12月05日 文章來源：科技日報
俄國立核能研究大學“莫斯科理工學院”微電子和納米電子部門的工作人員提出了一種新的技術方案，可以預測太空集成微電路的故障。
現代氣象衛(wèi)星、通信衛(wèi)星和地球觀測衛(wèi)星在軌道至少應運行10年—15年，失常原因通常是機載電子設備發(fā)生故障?，F在，集成電路元件尺寸縮小到納米級別，這導致多種故障發(fā)生，比如，一個宇宙微粒可以同時在幾個邏輯元件或存儲單元引起錯誤，從而造成故障或不可逆的損壞。
為解決這一問題，研究團隊發(fā)明了一種新方法，可以處理地面實驗的結果，并計算出故障發(fā)生的頻率，在技術和程序方面能對最新設計的現代納米集成電路進行預測，從而有效避免其在太空中的多種故障。
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